[V 2026/244] Focused Ion Beam, Scanning Electron Microscope (FIB-SEM)

Meddelande om upphandling

Publik annons: Denna upphandling är annonserad publikt. Sista dag för att lämna in anbud är {0}

Lund Nano Lab (LNL) at Lund University intends to purchase a Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope, in this document referred to as the FIB-SEM, instrument or equipment. This document lists all the requirements the FIB-SEM must meet. The instrument is intended to be used for high-resolution imaging, materials analysis and preparing samples for TEM analysis as well as for experiments at the MAX IV synchrotron.

Sista dagen för inlämning

2026-08-24

Sista dag för att ställa frågor är

2026-08-14

Anbud giltigt t.o.m.

2027-01-01

Tidsfrist för att lämna in ditt anbud

 Dagar  Timmar  Minuter  Sekunder

Mer information hittar du genom att klicka på Upphandlingsdokument i menyn till vänster och under rubriken Skapa anbud finns information om hur du ska lämna in anbud.