Titel: Focused Ion Beam, Scanning Electron Microscope (FIB-SEM)
Beskrivning: Lund Nano Lab (LNL) at Lund University intends to purchase a Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope, in this document referred to as the FIB-SEM, instrument or equipment. This document lists all the requirements the FIB-SEM must meet. The instrument is intended to be used for high-resolution imaging, materials analysis and preparing samples for TEM analysis as well as for experiments at the MAX IV synchrotron.
Förfarandets identifierare: 83edc331-c062-4d95-ba36-6c6d1addc85d
Intern identifierare: V 2026/244
Förfarandet är påskyndat: nej
2.1.1 Föremålet för upphandlingen
Huvudklassificering (cpv): 38511100 Svepelektronmikroskop
Ytterligare klassificering (cpv): 38000000 Laboratorieutrustning, optisk utrustning och precisionsutrustning (exkl. glas)
2.1.2 Leveransplats
Del av land (NUTS): Skåne län (SE224)
Kompletterande information: -
2.1.3 Värde
Beräknat värde exklusive moms: 28 000 000 Svensk krona
2.1.4 Allmänna upplysningar
2.1.6 Uteslutningsgrunder
Källor till uteslutningsgrunder: Upphandlingsdokument